Delibera rettorale di costituzione del CIMA 

Il Centro Interdipartimentale di Microscopia Avanzata "Carlo e Dirce Callerio" - CIMA dell’Università degli Studi di Trieste si trova ubicato nella parte più alta del comprensorio universitario, in via Fleming 31/a  e 31/b.

Servizio di Microscopia Ottica ed Elettronica

per richieste al coordinatore: cima@units.it

 per richieste tecniche/prenotazione strumenti/sessioni di lavoro: cima.service@units.it

Coordinatore CIMA

Dott. Gabriele Baj
e-mail:  gbaj@units.it
tel. +39 040 558 8676

Personale tecnico e ricercatore

• RTDa Agnes Thalhammer
• Dott.ssa Giovanna Baldini
• Dott.ssa Roberta Bortul
• Dott.ssa Susanna Bosi
• Dott. Davide Porrelli

  Servizi offerti

I servizi si dividono nelle due macroaree di microscopia Elettronica (EM) ed Ottica (OM). Per quanto riguarda EM il CIMA fornisce assitenza e gestisce tutte le fasi di preparazione, colorazione e taglio dei campioni. Il personale possiede le competenze necessarie per stabilire le tecniche più opportune per la preparazione del campione, e guidare la scelta più idonea per il metodo di osservazione.

Il personale tecnico e i ricercatori stabiliranno di volta in volta la tipologia delle immagini digitali e/o delle misure di microanalisi che verranno fornite ed eventualmente interpretate insieme agli interessati.

Per quanto riguarda l0 OM il CIMA dispone di strutture e strumentazioni adeguate a effettuare classiche lavorazioni/colorazioni/staining cito/istologici nonchè a supportare gli utenti per acquisizioni in live imaging.

Per gli utenti che necessitano di sessioni prolungate o ripetute di microscopia è previsto un training che consente loro l’uso della strumentazione con diversi gradi di  autonomia, per l’osservazione e l’acquisizione delle immagini.

  Strumentazione disponibile

SEM

La Microscopia Elettronica a Scansione (SEM) permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione conduttivo e di raccogliere l’immagine della superficie indagata convertendo in segnale, tramite opportuni rivelatori, i diversi prodotti risultanti. Tali segnali vengono poi riprodotti su uno schermo catodico il cui pennello elettronico deve risultare in fase con quello della colonna del SEM. L’immagine che si ottiene è dotata di un’ottima profondità di campo, per cui si possono osservare in dettaglio le asperità superficiali e le caratteristiche morfologiche del campione analizzato. Inoltre l'analisi dei raggi X prodotti permette di effettuare uno studio accurato sulla composizione elementare del materiale indagato.

Il servizio SEM è dotato della seguente strumentazione:

• Microscopio elettronico a scansione – GEMINI 300 FEG ZEISS
• Microscopio elettronico a scansione – Quanta 250 TI FEI

Attrezzatura di supporto

• Metallizzatore S150A Sputter Coater, la cui funzione è quella di rendere i campioni conduttivi
• K850 Critical Point Dryer, utilizzato nel caso in cui si debbano disidratare campioni biologici, molto delicati o di struttura fragile, al fine di poterli osservare in vuoto
• Rivelatore per immagini SE (elettroni secondari)
• Rivelatore per immagini BSE (elettroni retrodiffusi)
• Sistema di microanalisi semi-quantitativo EDX dotato  di rivelatore al Si(Li) PENTAFET PLUS TM, con finestra ATW TM (Oxford Instruments, United Kingdom)

TEM

La Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM) permette di ottenere , da un campione sufficientemente assottigliato (< 0.1 micron), immagini ad alta risoluzione prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 200 KeV) trasmessi su uno schermo fluorescente.

Il servizio TEM è dotato della seguente strumentazione:

• Microscopio elettronico a trasmissione (CM 200, Philips) dotato di telecamera Quemesa (Olympus Soft Imaging Solutions). Acquisizione immagini con software RADIUS.
• Microscopio elettronico a trasmissione (EM 208, Philips) dotato di telecamera Quemesa (Olympus Soft Imaging Solutions). Acquisizione immagini con software RADIUS.

Attrezzatura di supporto

• Microanalisi EDX (Oxford Instruments, United Kingdom)
• Ultramicrotomo Leica Ultracut UCT8
• Microscopio ottico Leitz Orthoplan con condensatore in campo chiaro, in campo oscuro, in contrasto di fase
• Microscopio ottico Leitz Ortholux dotato di telecamera (Leica DC 300) per acquisizione immagini

La Microscopia OTTICA (OM) permette di ottenere immagini ad alto ingrandimento ed alta risuluzione ottica di campioni campione sia in campo chiaro che a fluorescenza. La OM consente inoltre di acquisre immagini anche da campioni vivi (live imaging) o solo minimanente processati (fissati) senza perdita dell’ambiente fisiologico di conservazione.

Il servizio OM è dotato della seguente strumentazione:

• Microscopio a super risoluzione a luce strutturata SIM ELYRA 7 ZEISS
• Microscopio confocale multifotone a laser tunable A1R+ MP Nikon
• Microscopia confocale (upcoming, per il momento fare riferimento a  www.units.it/confocal)

Attrezzatura di supporto

• Stanza cellule dedicata dotata di incubatore, centrifuga, cappa cellule, bagnetto termostato
• Sistema di Live imaging per microscopio Elyra 7 dotato di controllo temperatura e CO2/O2  

  Accesso al servizio & tariffe utenti

 Regolamento e Tariffario CIMA aggiornato al 2023

  Stage e tirocini

Presso la struttura, su richiesta, vengono ospitati  e seguiti nell’ambito di stage/tirocini:

• dottorandi, studenti universitari, studenti di scuole di specializzazione
• studenti di scuole secondarie che svolgono stage nell’ambito del progetto alternanza scuola lavoro
• studenti di scuole secondarie per visite e dimostrazioni

  Calendario prenotazioni

Link al calendario delle prenotazioni